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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - Siegfried Hofmann
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Siegfried Hofmann:

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - nuovo libro

ISBN: 3642273815

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science ab 170.99 € als pdf eBook: A User-Oriented Guide. Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik, Medien > Bücher… Altro …

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Andreas Luszczak:

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science : A User-Oriented Guide - nuovo libro

ISBN: 9783642273810

This book presents the basics of Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science in logical order from sample preparation and instrument setup through data acquisition to… Altro …

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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science (eBook) - Siegfried Hofmann,
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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science (eBook) - nuovo libro

ISBN: 9783642273810

by Siegfried Hofmann, PRINT ISBN: 9783642273803 E-TEXT ISBN: 9783642273810 Additional ISBNs: 3642273807, 3642431739, 9783642273803, 9783642431739 Springer Nature eBook Other pricing struc… Altro …

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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - Prima edizione

2012, ISBN: 9783642273810

A User-Oriented Guide, eBooks, eBook Download (PDF), Auflage, [PU: Springer-Verlag], [ED: 1], Springer-Verlag, 2012

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2012, ISBN: 9783642273810

A User-Oriented Guide, eBooks, eBook Download (PDF), 2013, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2012

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science
Autore:
Titolo:
ISBN:

3642273815

Informazioni dettagliate del libro - Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science


EAN (ISBN-13): 9783642273810
ISBN (ISBN-10): 3642273815
Anno di pubblicazione: 2012
Editore: Springer-Verlag
528 Pagine
Lingua: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 3642273815

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
3-642-27381-5, 978-3-642-27381-0
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : hofman, siegfried hofmann, andreas luszczak, teubner andreas
Titolo del libro: auge auge, photo, material, ray spectroscopy

Dati dell'editore

Autore: Siegfried Hofmann
Titolo: Springer Series in Surface Sciences; Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - A User-Oriented Guide
Editore: Springer; Springer Berlin
528 Pagine
Anno di pubblicazione: 2012-10-25
Berlin; Heidelberg; DE
Lingua: Inglese
309,23 € (DE)
317,90 € (AT)
354,00 CHF (CH)
Available
XX, 528 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; Auger electron spectroscopy; interface analysis; scanning Auger microscopy; surface analysis; thin-film depth profiling; C; Condensed Matter Physics; Spectroscopy; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Chemistry and Materials Science; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Materialwissenschaft; BC

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