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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences) - livre d'occasion

ISBN: 9780387135304

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Reimer, Ludwig:

Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences) - edition reliée, livre de poche

1986, ISBN: 9780387135304

Springer-Verlag, Gebundene Ausgabe, Publiziert: 1986-01T, Produktgruppe: Buch, Kategorien, Bücher, Springer-Verlag, 1986

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Reimer, Ludwig:
Scanning Electron Microscopy - livre d'occasion

1985

ISBN: 0387135308

[EAN: 9780387135304], Gebraucht, guter Zustand, [PU: Springer], Ships from the UK. Former Library book. Shows some signs of wear, and may have some markings on the inside.

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1986, ISBN: 9780387135304

Springer-Verlag, 1986-01. Hardcover. Good., Springer-Verlag, 1986-01, 2.5

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1986, ISBN: 9780387135304

Springer-Verlag, 1986-01. Hardcover. Good., Springer-Verlag, 1986-01

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences)
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Titre:
ISBN:

0387135308


Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Informations détaillées sur le livre - Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences)


EAN (ISBN-13): 9780387135304
ISBN (ISBN-10): 0387135308
Version reliée
Date de parution: 1986
Editeur: Springer-Verlag

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ISBN/EAN: 0387135308

ISBN - Autres types d'écriture:
0-387-13530-8, 978-0-387-13530-4
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: ludwig reimer
Titre du livre: optical microscopy, scanning electron microscopy physics image formation and microanalysis, springer physics

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