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Dielectric Films for Advanced Microelectronics - John Paul Mueller
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John Paul Mueller:

Dielectric Films for Advanced Microelectronics - nouveau livre

ISBN: 9780470065419

The topic of thin films is an area of increasing importance in materials science, electrical engineering and applied solid state physics; with both research and industrial applications in… Plus…

No. 9780470065419. Frais d'envoiInstock, Despatched same working day before 3pm, zzgl. Versandkosten., Livraison non-comprise
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Dielectric Films for Advanced Microelectronics - John Wiley & Sons Inc
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John Wiley & Sons Inc:

Dielectric Films for Advanced Microelectronics - nouveau livre

2007, ISBN: 9780470065419

The topic of thin films is an area of increasing importance inmaterials science, electrical engineering and applied solid statephysics; with both research and industrial applications inmi… Plus…

Nr. 27910338. Frais d'envoiLieferzeiten außerhalb der Schweiz 3 bis 21 Werktage, , Sofort per Download lieferbar, zzgl. Versandkosten. (EUR 16.64)
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Dielectric Films for Advanced Microelectronics - Mikhail Baklanov; Karen Maex; Martin Green
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Mikhail Baklanov; Karen Maex; Martin Green:
Dielectric Films for Advanced Microelectronics - Première édition

2007

ISBN: 9780470065419

eBooks, eBook Download (PDF), 1. Auflage, [PU: John Wiley & Sons], John Wiley & Sons, 2007

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Dielectric Films for Advanced Microelectronics - Mikhail Baklanov; Karen Maex; Martin Green
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Mikhail Baklanov; Karen Maex; Martin Green:
Dielectric Films for Advanced Microelectronics - Première édition

2007, ISBN: 9780470065419

eBooks, eBook Download (PDF), Auflage, [PU: Wiley], [ED: 1], Wiley, 2007

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Dielectric Films for Advanced Microelectronics - Mikhail Baklanov; Martin Green; Karen Maex
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Mikhail Baklanov; Martin Green; Karen Maex:
Dielectric Films for Advanced Microelectronics - Première édition

2007, ISBN: 9780470065419

eBooks, eBook Download (PDF), 1. Auflage, [PU: Wiley], Wiley, 2007

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre

Informations détaillées sur le livre - Dielectric Films for Advanced Microelectronics


EAN (ISBN-13): 9780470065419
ISBN (ISBN-10): 0470065419
Date de parution: 2007
Editeur: Wiley
508 Pages
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 0470065419

ISBN - Autres types d'écriture:
0-470-06541-9, 978-0-470-06541-9
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: martin green, marti green, green karen, john paul, martin mae, baklanov
Titre du livre: microelectronics


Données de l'éditeur

Auteur: Mikhail Baklanov
Titre: Wiley Series in Materials for Electronic & Optoelectronic Applications; Dielectric Films for Advanced Microelectronics
Editeur: Wiley; John Wiley & Sons
508 Pages
Date de parution: 2007-04-04
Langue: Anglais
208,99 € (DE)

EA; E107; E-Book; Nonbooks, PBS / Chemie; Technische Anwendung von Oberflächenbeschichtungen und -filmen; Dielectrics & Electric Insulators; Dielektrika u. Isolatoren; Dielektrizität; Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen; Electrical & Electronics Engineering; Elektrotechnik u. Elektronik; Materials Science; Materialwissenschaften; Mikroelektronik; Thin Films, Surfaces & Interfaces; Dielektrika u. Isolatoren; Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen; BB

Series Preface. Preface. (Mikhail Baklanov, Martin Green and KarenMaex). 1. Low and Ultralow Dielectric Constant Films Preparedby Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition. (A.Grill). 2. Spin-On Dielectric Materials. (GeraudDubois, Willi Volksen and Robert D. Miller). 3.Porosity of Low Dielectric Constant Materials. 3.1 Positron Annihilation Spectroscopy. (David W.Gidley, Hua-Gen Peng, and Richard Vallery). 3.2Structure Characterization of Nanoporous InterlevelDielectric Thin Films with X-ray and Neutron Radiation.(Christopher L. Soles, Hae-Jeong Lee, Bryan D. Vogt, Eric K.Lin, Wen-li Wu). 3.3 Ellipsometric Porosimetry. (M. R.Baklanov). 4.Mechanical and Transport Properties of Low-kDielectrics. (J.L. Plawsky, R. Achanta, W. Cho, O.Rodriguez, R. Saxena, and W.N. Gill). 5. Integration of low-k dielectric films in damasceneprocesses. (R.J.O.M. Hoofman, V.H. Nguyen,V. Arnal, M.Broekaart, L.G. Gosset,W.F.A. Besling, M. Fayolle and F.Iacopi). 6. ONO structures and oxynitrides in modern microelectronics.Material science, characterization and application.(Yakov Roizin and Vladimir Gritsenko). High Dielectric constant Materials. 7. Material Engineering of High-k GateDielectrics. (Akira Toriumi and Koji Kita). 8. PhysicalCharacterisation of ultra-thin high-k dielectric. (T.Conard, H. Bender and W. Vandervorst). 9. Electrical Characterization of Advanced GateDielectrics. (Robin Degraeve, Jurriaan Schmitz,Luigi Pantisano, Eddy Simoen, Michel Houssa, Ben Kaezer, andGuido Groeseneken). Medium dielectric constant materials. 10. Integration Issues of High-k Gate Dielectrics.(Yasuo Nara). Dielectric films for interconnects (packaging). 11. Anisotropic Conductive Film (ACF) for AdvancedMicroelectronic Interconnects. (Yi Li, C. P.Wong). Index.

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