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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
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eBooks, eBook Download (PDF), 2010, Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate… Plus…

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; PDF; Scientific, Technical and Medical > Electronics & communications engineering > Electronics engineeri, Cambridge Scholars Publishing

No. 9781441909282. Frais d'envoiInstock, Despatched same working day before 3pm, plus shipping costs., Livraison non-comprise
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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Auteur:
Titre:
ISBN:

1441909281

Informations détaillées sur le livre - Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices


EAN (ISBN-13): 9781441909282
ISBN (ISBN-10): 1441909281
Date de parution: 2010
Editeur: Springer-Verlag GmbH
353 Pages
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 1441909281

ISBN - Autres types d'écriture:
1-4419-0928-1, 978-1-4419-0928-2
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: girard patrick, xiaoqi
Titre du livre: test

Données de l'éditeur

Auteur: Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Titre: Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Editeur: Springer; Springer US
363 Pages
Date de parution: 2010-03-11
New York; NY; US
Langue: Anglais
106,99 € (DE)
110,00 € (AT)
130,00 CHF (CH)
Available
XXI, 363 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Electronic Testing; Low Power Design; Low Power Testing; Nanoscale Testing; Nicolici; Power Aware Testing; Semiconductor Testing; VLSI; Wen; power management; semiconductor; testing; B; Electronic Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Engineering; Computer-Aided Design (CAD); BB

Fundamentals of VLSI Testing.- Power Issues During Test.- Low-Power Test Pattern Generation.- Power-Aware Design-for-Test.- Power-Aware Test Data Compression and BIST.- Power-Aware System-Level Test Planning.- Low-Power Design Techniques and Test Implications.- Test Strategies for Multivoltage Designs.- Test Strategies for Gated Clock Designs.- Test of Power Management Structures.- EDA Solution for Power-Aware Design-for-Test.
Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systems Instructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliability Includes necessary background information on design for test and low-power design Incorporates detailed coverage of all levels of abstraction for power-aware testing of (low-power) circuits and systems Presents state-of-the-art industrial practices and EDA solutions Includes supplementary material: sn.pub/extras
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