1976, ISBN: 3110066033
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1976, ISBN: 9783110066036
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1976, ISBN: 9783110066036
[PU: Berlin, de Gruyter], 342 S. 8. Original-Leineneinband, Bibliotheksexemplar mit Rückenschild, leicht berieben und bestoßen, hinterer Deckel leicht fleckig, Signaturen / Stempel (entwi… Plus…
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1976, ISBN: 9783110066036
342 S. 8°. Original-Leineneinband, Bibliotheksexemplar mit Rückenschild, leicht berieben und bestoßen, hinterer Deckel leicht fleckig, Signaturen / Stempel (entwidmet) auf Vorsatz und Tit… Plus…
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1976, ISBN: 3110066033
Leinen 342 Leinen Signalentdeckung Wahrnehmung Linguistik Bibl-Ex. Guter Zustand Bibl-Ex. ha1077097 1, [PU:de Gruyter Berlin,]
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1976, ISBN: 3110066033
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Peipmann, Rolf:
Erkennung von Strukturen und Mustern : Grundlagen u. Verfahren. - edition reliée, livre de poche1976, ISBN: 9783110066036
342 Seiten; illustriert; gebundene Ausgabe Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild ledigl… Plus…
1976
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1976, ISBN: 3110066033
Leinen 342 Leinen Signalentdeckung Wahrnehmung Linguistik Bibl-Ex. Guter Zustand Bibl-Ex. ha1077097 1, [PU:de Gruyter Berlin,]
Données bibliographiques du meilleur livre correspondant
Informations détaillées sur le livre - Erkennung von Strukturen und Mustern. Grundlagen und Verfahren.
EAN (ISBN-13): 9783110066036
ISBN (ISBN-10): 3110066033
Version reliée
Date de parution: 1990
Editeur: Berlin, New York, de Gruyter.
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ISBN/EAN: 3110066033
ISBN - Autres types d'écriture:
3-11-006603-3, 978-3-11-006603-6
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: peipmann
Titre du livre: erkennung von strukturen und mustern
Données de l'éditeur
Titre: PEIPMANN:ERKENNUNG V STRUKTUREN U MUSTERN
Editeur: De Gruyter
Date de parution: 1976-04-01
Berlin
Poids: 0,010 kg
Langue: Allemand
109,95 € (DE)
109,95 € (AT)
Not available (reason unspecified)
BB; Hardcover, Softcover / Sachbücher/Lexika, Nachschlagewerke; Enzyklopädien und Nachschlagewerke; Bildverarbeitung; Erkennung; Form perception; Graphische Datenverarbeitung; Mustererkennung; Optical pattern recognition; Pattern perception; Technische Erkennung; rabattbeschränkt/Bibliothekswerke
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