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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Livres de poche

ISBN: 3642077854

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Détails sur le livre

Informations détaillées sur le livre - Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)


ISBN (ISBN-10): 3642077854 (ISBN-13: 9783642077852)
Livre de poche

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ISBN/EAN: 3642077854

ISBN - Autres types d'écriture:
3-642-07785-4
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: martin wilhelm
Titre du livre: thermography


Données de l'éditeur

Auteur: Otwin Breitenstein; Wilhelm Warta; Martin Langenkamp
Titre: Springer Series in Advanced Microelectronics; Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Editeur: Springer Berlin
193 Pages
Date de parution: 2011-03-06
Langue: Anglais
128,35 € (DE)
132,00 € (AT)
186,50 CHF (CH)
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BC; PB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik, Nachrichtentechnik; Failure analysis; Solar cell characterization; Trap density mapping; Shunt imaging; Lifetime mapping; Research

Introduction.- Physical and Technical Basics.- Experimental Technique.- Theory.- Measurement Strategies.- Typical Applications.- Summary and Outlook.- References.- Appendices.- Index.
This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. It provides the necessary knowledge on the scientific basics and application of this method. It appeals to electrical engineers, researchers and advanced students.

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