Halbleiter-Leistungsbauelemente Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit - edition reliée, livre de poche
2012, ISBN: 9783642297953
Gebunden, 404 Seiten, 246mm x 173mm x 28mm, Sprache(n): ger Praxisbezogene Behandlung der Bauelemente der LeistungselektronikHilft bei der Analyse der FehlerursachenAktualisiert auf den n… Plus…
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2012, ISBN: 3642297951
Edition reliée
[EAN: 9783642297953], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], BAUELEMENT (ELEKTRONISCH) - BAUSTEIN (ELEKTRONISCH); ELEKTRONIK / BAUELEMENTE; HALBLEITER ELEKTRONIK; BIPOLARE … Plus…
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2012, ISBN: 3642297951
2. Aufl. 2012 Gebundene Ausgabe Bauelement (elektronisch) - Baustein (elektronisch), Elektronik / Bauelemente, Halbleiter / Elektronik, Elektrotechnik, Elektronik, Bipolare Transistoren… Plus…
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Halbleiter-Leistungsbauelemente : Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit - Première édition2012, ISBN: 3642297951
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Informations détaillées sur le livre - Halbleiter-Leistungsbauelemente: Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit
EAN (ISBN-13): 9783642297953
ISBN (ISBN-10): 3642297951
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2012
Editeur: Springer
383 Pages
Poids: 0,819 kg
Langue: deu
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ISBN/EAN: 3642297951
ISBN - Autres types d'écriture:
3-642-29795-1, 978-3-642-29795-3
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: lutz, josef, lütz
Titre du livre: halbleiter leistungsbauelemente, zuverlässigkeit, halb, physik, leistung
Données de l'éditeur
Auteur: Josef Lutz
Titre: Halbleiter-Leistungsbauelemente - Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit
Editeur: Springer; Springer Berlin
383 Pages
Date de parution: 2012-11-07
Berlin; Heidelberg; DE
Imprimé / Fabriqué en
Langue: Allemand
119,99 € (DE)
123,35 € (AT)
132,50 CHF (CH)
POD
XXII, 383 S. 298 Abb.
BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Elektrotechnik, Elektronik; Bipolare Transistoren; Halbleiter; Halbleiterphysik; Halbleiterphysikalische Grundlagen; Herstellungstechnologie; IGBTs; MOS Transistoren; MOSFET; Robustheit; Schnelle Dioden; Schottky-Dioden; SchwingungseffekteSiC Bauelemente; Superjunction Bauelemente; Systemintegration; Thyristoren; Zuverlässigkeit; pn-Übergänge; Electronic Circuits and Systems; Electrical Power Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Elektrotechnik; Elektronik; BB; EA
Die 2. bearbeitete Auflage stellt einige Zusammenhänge bei Transistoren und Thyristoren präziser dar. Sie berücksichtigt die technischen Neuerungen und Entwicklungen seit Erscheinen der 1. Auflage.Ergänzt wurde die Beschreibung einiger Bauelemente aus SiC, der Weiterentwicklungen bei IGBTs sowie weitere Erkenntnisse zur Robustheit von Leistungsdioden.Praxisbezogene Behandlung der Bauelemente der Leistungselektronik Hilft bei der Analyse der Fehlerursachen Aktualisiert auf den neuesten Stand der Technik Includes supplementary material: sn.pub/extras Includes supplementary material: sn.pub/extras
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