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Chin, Alan K.; Wang, S. C.; Dutta, Niloy K.; Linden, Kurt J.:

Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices (SPIE Proceedings Volume 4285) - Livres de poche

2001, ISBN: 0819439630

[EAN: 9780819439635], [PU: SPIE], OPTICAL OPTOELECTRONIC DEVICES MEDICAL MEDICINE, Technology|Electronics|Optoelectronics, Technology|General, 0819439630 | Yellow covers. Clean pages, tig… Plus…

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Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices (Spie Proceedings Volume 4285) - Livres de poche

2001, ISBN: 9780819439635

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Testing Reliability and Application: 24-26 January, 2001, San Jose, California USA (Proceedings of Spie--the International Society for Optical Engineering, V. 4285.) - Livres de poche

2001

ISBN: 9780819439635

SPIE-International Society for Optical Engine, 2001-05. Paperback. Good., SPIE-International Society for Optical Engine, 2001-05

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Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices - Aland K. Chin
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Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices - edition reliée, livre de poche

ISBN: 9780819439635

Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices Testing-Reliability-and-Applications-of-Optoelectronic-Devices~~Aland-K-Chin Undefined>Undefined>Undefined Hardcover, SPIE… Plus…

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Détails sur le livre
Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices
Auteur:
Titre:
ISBN:

9780819439635

Informations détaillées sur le livre - Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices


EAN (ISBN-13): 9780819439635
ISBN (ISBN-10): 0819439630
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2001
Editeur: SPIE Press

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ISBN/EAN: 9780819439635

ISBN - Autres types d'écriture:
0-8194-3963-0, 978-0-8194-3963-5
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: linden, kurt aland
Titre du livre: optoelectronic devices

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