2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… Plus…
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[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… Plus…
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2008, ISBN: 9783540851547
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Luysberg, Martina (Herausgeber); Weirich, Thomas (Herausgeber); Tillmann, Karsten (Herausgeber):
EMC 2008 Vol 1: Instrumentation and Methods - edition reliée, livre de poche2008, ISBN: 3540851542
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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant
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Informations détaillées sur le livre - EMC 2008: Vol 1: Instrumentation and Methods
EAN (ISBN-13): 9783540851547
ISBN (ISBN-10): 3540851542
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2008
Editeur: Luysberg, Martina, Tillmann, Karsten, Weirich, Thomas, Springer
862 Pages
Poids: 1,388 kg
Langue: eng/Englisch
Livre dans la base de données depuis 2008-09-04T23:14:00+02:00 (Zurich)
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ISBN/EAN: 9783540851547
ISBN - Autres types d'écriture:
3-540-85154-2, 978-3-540-85154-7
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: schryvers, karsten thomas, tillmann, weirich, luys, martina thom, till thomas, luy
Titre du livre: aachen september, die instrumentation der, 2008, tillmann, emc
Données de l'éditeur
Auteur: Martina Luysberg; Karsten Tillmann; Thomas Weirich
Titre: EMC 2008 - Vol 1: Instrumentation and Methods
Editeur: Springer; Springer Berlin
862 Pages
Date de parution: 2008-08-26
Berlin; Heidelberg; DE
Langue: Anglais
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
Available
XXXVIII, 862 p.
BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Allgemeines, Lexika; Mathematik und Naturwissenschaften; Verstehen; Astronomie, Kartographie; calculus; electron; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscopy; Physics and Astronomy; EA; BC
Instrumentation and Methods.- TEM and STEM instrumentation and Electron Optics.- TEM and STEM methods.- SEM/FIB Instrumentation and Methods.- Other Microscopies.- Image analysis and Processing.- Sample Preparation for Materials Science and Biology.Autres livres qui pourraient ressembler au livre recherché:
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