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Stress Analysis of Bonded Assemblies: Applications in Microelectronics | Axisymmetric Assemblies under Thermal Loading | Shilak Shakya | Taschenbuch | Englisch | VDM Verlag Dr. Müller - Shakya, Shilak
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Shakya, Shilak:

Stress Analysis of Bonded Assemblies: Applications in Microelectronics | Axisymmetric Assemblies under Thermal Loading | Shilak Shakya | Taschenbuch | Englisch | VDM Verlag Dr. Müller - Livres de poche

ISBN: 9783639060324

[ED: Taschenbuch], [PU: VDM Verlag Dr. Müller], Four analytical models are developed for predictingthe maximum shearing displacement in a bondedassembly under global thermal mismatch load… Plus…

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Stress Analysis of Bonded Assemblies: Applications in Microelectronics (Paperback) - Livres de poche

2008, ISBN: 3639060326

[EAN: 9783639060324], Neubuch, [PU: VDM Verlag Dr. Mueller E.K., Germany], Language: English. Brand new Book. Four analytical models are developed for predicting the maximum shearing disp… Plus…

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Stress Analysis of Bonded Assemblies: Applications inMicroelectronics - Livres de poche

2008

ISBN: 3639060326

[EAN: 9783639060324], Neubuch, [PU: VDM Verlag Dr. Müller], TECHNIK MIKROELEKTRONIK, Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung für Sie gedruckt. Four… Plus…

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Stress Analysis of Bonded Assemblies Applications in Microelectronics - Livres de poche

2009, ISBN: 9783639060324

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Stress Analysis of Bonded Assemblies Applications in Microelectronics - Livres de poche

2008, ISBN: 3639060326

[EAN: 9783639060324], Neubuch, [PU: VDM Verlag], New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000., Books

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Stress Analysis of Bonded Assemblies: Applications inMicroelectronics

Four analytical models are developed for predicting the maximum shearing displacement in a bonded assembly under global thermal mismatch loading. Analytical model includes: i) elastic analysis, ii) elasto-plastic analysis, iii) viscoelastic analysis, and iv) viscoelastic-plastic analysis. All results have been derived as closed-form correction factors to be applied to the easily calculated unconstrained shear displacement to obtain the maximum shear displacement. The motivation for determining the maximum shear displacement is to compute the maximum shear strain, which is then used to estimate the cycles-to-failure by means of a fatigue law. The analytical relations derived are simple, easy-to-use, and helpful for studying the interaction among the various design parameters. The analytical relations are in good agreement with existing experimental and numerical results.

Informations détaillées sur le livre - Stress Analysis of Bonded Assemblies: Applications inMicroelectronics


EAN (ISBN-13): 9783639060324
ISBN (ISBN-10): 3639060326
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2008
Editeur: VDM Verlag
256 Pages
Poids: 0,398 kg
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 9783639060324

ISBN - Autres types d'écriture:
3-639-06032-6, 978-3-639-06032-4
Autres types d'écriture et termes associés:
Titre du livre: analysis, thermal stress, applications, microelectronics


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