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Atomic and Nuclear Analytical Methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques - Hem Raj Verma
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Atomic and Nuclear Analytical Methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques - Livres de poche

2010, ISBN: 3642067735

[EAN: 9783642067730], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], ACCELERATORS; ATOMICANDNUCLEARPHYSICS; MASSSPECTROMETRY; MATERIALANALYSIS; MÖSSBAUERSPECTROSCOPY; RADIATIONPHYS… Plus…

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This book is a blend of analytical methods based on the phenomenon of atomic and nuclear physics. It comprises comprehensive presentations about X-ray Fluorescence (XRF), Mössbauer Spect… Plus…

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2010, ISBN: 9783642067730

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 392 Seiten, Publiziert: 2010-02-12T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 128 black & white illustrat… Plus…

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Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 390 Seiten, Publiziert: 2010-02-12T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: 128 black & white illustratio… Plus…

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Auteur:
Titre:
ISBN:

9783642067730


This book compares and offers a comprehensive overview of nine analytical techniques important in material science and many other branches of science. All these methods are already well adapted to applications in diverse fields such as medical, environmental studies, archaeology, and materials science. This clearly presented reference describes and compares the principles of the methods and the various source and detector types.

Informations détaillées sur le livre - Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques


EAN (ISBN-13): 9783642067730
ISBN (ISBN-10): 3642067735
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2010
Editeur: Springer
392 Pages
Poids: 0,591 kg
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 9783642067730

ISBN - Autres types d'écriture:
3-642-06773-5, 978-3-642-06773-0
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: hem, verma
Titre du livre: spectroscopic methods, ion, xps

Données de l'éditeur

Auteur: Hem Raj Verma
Titre: Atomic and Nuclear Analytical Methods - XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Editeur: Springer; Springer Berlin
376 Pages
Date de parution: 2010-02-12
Berlin; Heidelberg; DE
Imprimé / Fabriqué en
Poids: 0,599 kg
Langue: Anglais
307,99 € (DE)

BC; Measurement Science and Instrumentation; Hardcover, Softcover / Technik/Allgemeines, Lexika; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Verstehen; Accelerators; Atomic and nuclear physics; Mass Spectrometry; Material analysis; Mössbauer spectroscopy; Radiation physics; X-ray spectroscopy; scattering; spectroscopy; Analytical Chemistry; Characterization and Evaluation of Materials; Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics; Condensed Matter Physics; Measurement Science and Instrumentation; Analytical Chemistry; Characterization and Analytical Technique; Atomic, Molecular and Chemical Physics; Condensed Matter Physics; Analytische Chemie; Werkstoffprüfung; Atom- und Molekularphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); BB

X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE).- Rutherford Backscattering Spectroscopy.- Elastic Recoil Detection.- Mössbauer Spectroscopy (MS).- X-Ray Photoelectron Spectroscopy.- Neutron Activation Analysis.- Nuclear Reaction Analysis and Particle-Induced Gamma-Ray Emission.- Accelerator Mass Spectrometry (AMS).

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