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Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates - Rimolo-Donadio, Renato
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Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates - Livres de poche

2011, ISBN: 9783832527761

Logos Verlag Berlin GmbH, Paperback, 224 Seiten, Publiziert: 2011-01-28T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 0.46 kg, Verkaufsrang: 312609, Electronics Engineering, Electronics & Communication… Plus…

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[EAN: 9783832527761], Neubuch, [PU: Logos Verlag]

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Softcover, Buch, [PU: Logos Berlin]

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates
Auteur:
Titre:
ISBN:

9783832527761

Informations détaillées sur le livre - Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates


EAN (ISBN-13): 9783832527761
ISBN (ISBN-10): 3832527761
Livre de poche
Date de parution: 2011
Editeur: Logos Verlag Berlin GmbH

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ISBN/EAN: 9783832527761

ISBN - Autres types d'écriture:
3-8325-2776-1, 978-3-8325-2776-1
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: renato
Titre du livre: validation

Données de l'éditeur

Auteur: Renato Rimolo-Donadio
Titre: Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates
Editeur: Logos Berlin
Date de parution: 2011-01-28
Langue: Anglais
37,50 € (DE)
38,60 € (AT)
Not available, publisher indicates OP

BC; PB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik, Nachrichtentechnik; Elektrotechnik, Elektronik; Signalintegrität; Spannungsversorgung; Elektromagnetische Verträglichkeit; Leiterplatte; Durchkontaktierung (Via); TU Hamburg-Harburg; 2010

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