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Chiang, Charles; Kawa, Jamil:

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - Livres de poche

2008, ISBN: 9048110211, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Frais d'envoiVersandkostenfrei innerhalb der BRD

Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 288 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=15mm, Gew.=408gr, [GR: 26460 - TB/Atomphysik/Kernphysik], [SW: - Technolog… Plus…

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Détails sur le livre
Auteur:
Titre:
ISBN:

9789048110216


This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

Informations détaillées sur le livre - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS


EAN (ISBN-13): 9789048110216
ISBN (ISBN-10): 9048110211
Livre de poche
Date de parution: 2008
Editeur: SPRINGER VERLAG GMBH
288 Pages
Poids: 0,408 kg
Langue: eng/Englisch

Livre dans la base de données depuis 2010-07-03T17:21:58+02:00 (Zurich)
Page de détail modifiée en dernier sur 2010-07-03T17:21:58+02:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 9789048110216

ISBN - Autres types d'écriture:
90-481-1021-1, 978-90-481-1021-6

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