- 5 Résultats
prix le plus bas: € 192,49, prix le plus élevé: € 442,03, prix moyen: € 295,45
1
Scanning Electron Microscopy / Physics of Image Formation and Microanalysis / Ludwig Reimer / Taschenbuch / Springer Series in Optical Sciences / Paperback / xiv / Englisch / 2010 / Springer Berlin - Reimer, Ludwig
Commander
sur booklooker.de
€ 265,04
Envoi: € 0,001
Commander
Détails du fournisseur
Lien sponsorisé
Reimer, Ludwig:

Scanning Electron Microscopy / Physics of Image Formation and Microanalysis / Ludwig Reimer / Taschenbuch / Springer Series in Optical Sciences / Paperback / xiv / Englisch / 2010 / Springer Berlin - Livres de poche

2010, ISBN: 9783642083723

[ED: Taschenbuch], [PU: Springer Berlin], Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The differe… Plus…

Frais d'envoiVersandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Buchbär
fermer(X)
2
Scanning Electron Microscopy Physics of Image Formation and Microanalysis - Reimer, Ludwig
Commander
sur Achtung-Buecher.de
€ 311,42
Envoi: € 0,001
Commander
Détails du fournisseur
Lien sponsorisé

Reimer, Ludwig:

Scanning Electron Microscopy Physics of Image Formation and Microanalysis - Livres de poche

2010, ISBN: 3642083722

Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998 Kartoniert / Broschiert Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie, Rasterelektronenmikroskopie; scanningtunnelingcrystal; diffract… Plus…

Frais d'envoiVersandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien
fermer(X)
3
Scanning Electron Microscopy - Ludwig Reimer
Commander
sur Hugendubel.de
€ 192,49
Envoi: € 0,001
Commander
Détails du fournisseur
Lien sponsorisé
Ludwig Reimer:
Scanning Electron Microscopy - Livres de poche

ISBN: 9783642083723

Scanning Electron Microscopy ab 192.49 € als Taschenbuch: Physics of Image Formation and Microanalysis. Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998. Aus dem Bereich: Bücher, Wissenscha… Plus…

Frais d'envoiShipping in 3 days, , Versandkostenfrei nach Hause oder Express-Lieferung in Ihre Buchhandlung., DE. (EUR 0.00)
fermer(X)
4
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences) [Soft Cover ] - Reimer, Ludwig
Commander
sur AbeBooks.de
€ 266,27
Envoi: € 8,201
Commander
Détails du fournisseur
Lien sponsorisé
Reimer, Ludwig:
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences) [Soft Cover ] - Livres de poche

2010, ISBN: 3642083722

[EAN: 9783642083723], Neubuch, [PU: Springer], Books

NEW BOOK. Frais d'envoi EUR 8.20 booksXpress, Freehold, NJ, U.S.A. [71410708] [Rating: 4 (von 5)]
fermer(X)
5
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis - Reimer, Ludwig
Commander
sur AbeBooks.de
€ 442,03
Envoi: € 17,421
Commander
Détails du fournisseur
Lien sponsorisé
Reimer, Ludwig:
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis - Livres de poche

2010, ISBN: 3642083722

[EAN: 9783642083723], Gebraucht, wie neu, [PU: Springer], Unread book in perfect condition., Books

NOT NEW BOOK. Frais d'envoi EUR 17.42 GreatBookPricesUK, Castle Donington, DERBY, United Kingdom [72536976] [Rating: 4 (von 5)]
fermer(X)
1Comme certaines plateformes ne transmettent pas les conditions d'expédition et que celles-ci peuvent dépendre du pays de livraison, du prix d'achat, du poids et de la taille de l'article, d'une éventuelle adhésion de la plateforme, d'une livraison directe par la plateforme ou via un prestataire tiers (Marketplace), etc. il est possible que les frais de livraison indiqués par eurolivre ne correspondent pas à ceux de la plateforme qui propose l'article.

Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Scanning Electron Microscopy
Auteur:
Titre:
ISBN:

9783642083723


Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Informations détaillées sur le livre - Scanning Electron Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783642083723
ISBN (ISBN-10): 3642083722
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2010
Editeur: Springer Berlin Heidelberg

Livre dans la base de données depuis 2011-08-01T18:50:49+02:00 (Zurich)
Page de détail modifiée en dernier sur 2024-03-22T18:45:46+01:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 9783642083723

ISBN - Autres types d'écriture:
3-642-08372-2, 978-3-642-08372-3
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: ludwig reimer, hawkes, ludwig reimers
Titre du livre: optical microscopy, science microscopy, scanning electron microscopy physics image formation and microanalysis, ludwig, englisch berlin

Données de l'éditeur

Auteur: Ludwig Reimer
Titre: Springer Series in Optical Sciences; Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis
Editeur: Springer; Springer Berlin
529 Pages
Date de parution: 2010-12-01
Berlin; Heidelberg; DE
Imprimé / Fabriqué en
Langue: Anglais
329,99 € (DE)

BC; Hardcover, Softcover / Chemie/Physikalische Chemie; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; Rasterelektronen Mikroskopie; Scanning Tunneling Microscopy; crystal; diffraction; electron microscope; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscope; Spectroscopy; Condensed Matter Physics; Surface and Interface and Thin Film; Physics and Astronomy; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Mathematik und Naturwissenschaften; BB; BB; EA

provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
< pour archiver...