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Radiation Effects on Embedded Systems
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Radiation Effects on Embedded Systems - Livres de poche

2010, ISBN: 9789048174171

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 280 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.95 kg, Verkaufsrang: 4645016, Umweltingen… Plus…

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Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 280 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.95 kg, Verkaufsrang: 4645016, Umweltingen… Plus…

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Radiation Effects on Embedded Systems - Velazco, Raoul (Herausgeber); Reis, Ricardo (Herausgeber); Fouillat, Pascal (Herausgeber)
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Velazco, Raoul (Herausgeber); Reis, Ricardo (Herausgeber); Fouillat, Pascal (Herausgeber):
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2010, ISBN: 9048174171

Edition reliée

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 Kartoniert / Broschiert Kernenergie und Kerntechnik (Nuklearenergie, Nukleartechnik), Elektrotechnik, Elektronik, Schaltkreise und Komponente… Plus…

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2010, ISBN: 9789048174171

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 280 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.95 kg, Verkaufsrang: 163, Umweltingenieur… Plus…

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Radiation Effects on Embedded Systems
Auteur:
Titre:
ISBN:

9789048174171


This volume provides an extensive overview of radiation effects on integrated circuits, offering major guidelines for coping with radiation effects on components. It contains a set of chapters based on the tutorials presented at the International School on Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA) that was held in Manaus, Brazil, November 20-25, 2005.

Informations détaillées sur le livre - Radiation Effects on Embedded Systems


EAN (ISBN-13): 9789048174171
ISBN (ISBN-10): 9048174171
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2010
Editeur: Velazco, Raoul, Fouillat, Pascal, Reis, Ricardo, Springer
280 Pages
Poids: 0,427 kg
Langue: eng/Englisch

Livre dans la base de données depuis 2011-09-21T16:21:36+02:00 (Zurich)
Page de détail modifiée en dernier sur 2024-01-20T18:21:11+01:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 9789048174171

ISBN - Autres types d'écriture:
90-481-7417-1, 978-90-481-7417-1
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: reis, ricardo, pascal, raoul plus
Titre du livre: effects radiation

Données de l'éditeur

Auteur: Raoul Velazco; Pascal Fouillat; Ricardo Reis
Titre: Radiation Effects on Embedded Systems
Editeur: Springer; Springer Netherland
269 Pages
Date de parution: 2010-10-19
Dordrecht; NL
Imprimé / Fabriqué en
Langue: Anglais
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
VIII, 269 p.

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Radiation Effects; Radiation ground testing; Signal; analog; circuit; electronics; embedded systems; fault tolerance; integrated circuit; laser; microelectronics; single event effects; single-electron transistor; software; testing; Electronic Circuits and Systems; Radiation Dosimetry and Protection; Electrical and Electronic Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Nuclear Energy; Medizinische Physik; Elektrotechnik; Elektronik; Kernenergie und Kerntechnik (Nuklearenergie, Nukleartechnik); BB; EA

Radiation Space Environment.- Radiation Effects in Microelectronics.- In-flight Anomalies on Electronic Devices.- Multi-level Fault Effects Evaluation.- Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits.- Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing.- Design Hardening Methodologies for ASICs.- Fault Tolerance in Programmable Circuits.- Automatic Tools for Design Hardening.- Test Facilities for SEE and Dose Testing.- Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools.- Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis.
Provides an extensive overview of radiation effects on integrated circuits Coverage of space radiation effects Design hardening methodologies Simulation techniques of the transient effects of radiation on integrated circuits Methodology and tools for radiation ground testing on circuits and systems Qualification of circuits and systems for space applications

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